表面処理解析
当社は、表面処理に関する様々な事象の分析・解析に注力しています。
表面処理を行う金属部品は、様々な産業で使用されるためその目的や用途に応じて
その合金成分や切削、加工、熱処理、溶接、鋳造等の材料プロセスが多種多様なため、
表面処理後に様々な欠陥が生じる場合があります。
従って、金属部品の表面観察や元素分析等の解析を行なうことは事象発生メカニズムの
解明や再発防止対策に必要不可欠であると言えます。
■表面処理液の分析管理
表面処理で使用する薬品濃度は、酸塩基滴定やキレート滴定、酸化還元滴定等で、
また、薬品中に蓄積されていく不純金属イオン濃度は、原子吸光光度計、紫外分光光度計、
ICP発光分光分析装置等を用いて日々管理しています。
■膜厚測定
金属めっき皮膜厚さは蛍光X線式膜厚計で、また酸化皮膜は渦電流式膜厚計にて測定し、
膜厚傾向管理しています。
■表面観察(1)
高性能デジタルマイクロスコープで、以下の様な皮膜表面状態の解析を行なっています。
・最大2,000倍の高倍率まで観察可能。
・3D画像化機能により、立体的にμ単位での表面粗度測定が可能。
・ライブ深度合成機能により、どのような形状の製品もピンボケすることなく鮮明に観察可能。
・同軸落射やリング照明等の様々な光照射法により、目的に応じた画像パターン診断が可能。
■表面観察(2)
SEM（走査型電子顕微鏡）は極めて高い分解能を有するため、光学顕微鏡では観察できない
微細な表面観察や組成分析、構造観察が可能であり、目的に応じて様々な画像診断を
行っています。
■内部観察(1)
TEM（透過型電子顕微鏡）を用いて、試料内部の情報である凝集度合いや結晶パターン、
格子欠陥の存在、結晶の配向方位などの解析を行っています。
■内部観察(2)
超音波は、伝播速度が組織や素材によって異なり、それを印加、検出して画像化する
装置を超音波顕微鏡といいます。この装置を使って、光学的には不可視の内部構造を
観察することで金属欠陥等を調べることができます。
■皮膜表面の元素解析
・蛍光X線元素分析法
・EPMA（電子線マイクロプローブアナライザー）
・FT-IR（フーリエ変換赤外分光法）
上記解析装置により、皮膜表面の元素や特定官能基を検出することで、
諸事象の原因特定や発生メカニズムが解明でき、その解決策を講じることができます。